中国科研实验室地质与地球物理研究所王拓博士后,与合作导师陈凌研究员、美国密苏里科技大学的Stephen S. Gao教授和Kelly H. Liu教授合作,利用接收函数H-叠加方法对Okavango裂谷及其周边地区(图1)的地壳厚度和Vp/Vs值进行研究。研究结果显示(图2a),相较研究区整体而言(∼41.53.2 km),裂谷轴附近地壳(~40.02.2 km)有所减薄,符合裂谷发育初期的地壳特征。该区域地壳平均Vp/Vs值高达~1.850.05(最高值为1.91;图2b中台站B06OR),显著高于全球平均值1.78。高地壳Vp/Vs值通常指示基性或超基性幔源物质侵入,因此Okavango裂谷壳内基性物质可能与切穿裂谷的Okavango岩墙群(图1中ODS)有关。值得注意的是,当地壳平均Vp/Vs值超过1.82时需考虑熔融的影响,因此Okavango裂谷地壳内可能存在熔融物质。
研究成果发表于国际学术期刊GRL(王拓, 陈凌*, Gao, S. S., Liu, K. H. Deciphering a quantitative relationship between rifting and crustal melt fraction: Insights from the incipient Okavango Rift Zone [J]. Geophysical Research Letters, 2025, 52: e2024GL111814. DOI: 10.1029/2024GL111814.)。研究得到了国家自然科学基金(42304059; 42288201)、美国国家科学基金(1919789)和美国化学协会石油研究基金(65563-ND8)项目的共同资助。